03/06/2026
📢 ¿Estás preparado para los retos de las pruebas paralelas en el diseño moderno de semiconductores?
Te invitamos al webinar en español de Tektronix:
"Los retos de las pruebas paralelas de alto número de canales en el diseño moderno de semiconductores"
🎙️ Presentado por: Rubén Cayetano Alejandre
📅 Fecha: 16 de junio de 2026
⏰ Hora: 11:00 a.m. (CST – Ciudad de México)
Conoce las tendencias, desafíos y mejores prácticas para abordar pruebas de alta densidad de canales en aplicaciones avanzadas de semiconductores.
🔗 Regístrate aquí:
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¡No pierdas la oportunidad de ampliar tus conocimientos con los expertos de Tektronix!