29/05/2026
🔍 薄膜厚度看不見？交給光學膜厚儀幫你看清楚！
在 AR 眼鏡、太陽能電池、OLED 顯示器、半導體製程、生醫感測、鍍膜監控裡，薄膜雖然薄到肉眼看不見，卻是影響產品效能、良率與穩定性的關鍵角色！
✨ 立創的光學膜厚分析解決方案
讓你不用破壞樣品，就能快速掌握膜厚d、折射率 n、消光係數 k，從研發分析到量產檢測都更有效率！
它可以幫你做到：
✅ 看懂膜層厚度
✅ 分析薄膜 n / k 光學特性
✅ 進行 2D / 3D Mapping 均勻性量測
✅ 1nm厚度解析度
✅ 非接觸、非破壞量測，不傷樣品
✅ 結構(Pattern)樣品的定位量測
✅ 從小樣品到大尺寸基板都能彈性配置
📌 應用超廣泛：
AR 擴增實境光學元件、太陽能電池、OLED 顯示技術、半導體製程、生醫與生物感測、鍍膜製程監控……只要跟薄膜有關，它都能成為你的分析好幫手！
從「這層膜到底多厚？」
到「整片樣品的均勻性好不好？」
再到「製程是否穩定？」
讓立創幫你把看不見的薄膜數據，變成看得懂、用得上、能改善製程的關鍵資訊 💡
📩 想了解哪一款配置最適合你的樣品？歡迎與我們聊聊！
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