06/05/2026
進入奈米製程時代，您是否也遇到這些檢測瓶頸？
❌ 晶圓表面的微小異常難以捕捉
❌ 高反光材質造成過多雜訊誤判
❌ 傳統光學檢測良率提升緩慢
💡solino® 計算式影像技術，讓「看不見的缺陷」無所遁形！
✅ BRDF 光學模型：深度解析材料反射行為，精準區分表面特徵。
✅ 多角度影像計算：整合多重光學資訊，比傳統 AOI 更細膩、更穩定。
✅ 高重現性檢測：即使是複雜材質，也能提供一致且可量化的影像品質。
✅ 易於產線整合：模組化 LED 光源設計，快速導入自動化設備。
🛠️ 多元應用場景：
🔹 半導體/晶圓：精準辨識污染與細微刮傷。
🔹 Wire bonding / Die：完整呈現金線鍵結狀態。
🔹 金屬加工/焊接：偵測氣孔、裂紋與表面瑕疵。
🔹 PCB 電子元件：提升微小結構判讀能力。
別讓肉眼與傳統光學限制了您的產品品質！
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